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名称：三离子束研磨减薄仪（进口设备）型号：LEICA EM TIC 3X功能要求：制备TEM分析所需样品。适用于任何材质的样品，使用该技术处理样品的受损程度可以降到最低，可获得高质量切割截面或抛光平面。切割区域尺寸可达4x1mm，一次容纳三个样品，操作简易、准确。针对硬/软复合材料，多孔材料，脆性材料及材质不均一性材料，可采用离子束切割技术获得真实的平整截面，从而适宜于SEM观察及EDS、WDS、Auger或者EBSD分析。参数要求：（1）离子枪：鞍式离子枪，3只，每只拥有独立电源控制。（2）离子枪电压：1-10kV，离子枪电流：0.5-4.5mA。（3）离子枪控制：电源及离子源为独立控制，可任意选择工作离子枪。（4）最大离子束切割速率：5µm/m(Si,10kV)。（5）离子束对中：无需对中校正。离子束切割区域：≥1mm×4mm。（6）可容纳样品尺寸：≥50x50x10mm。（7）离子束刻蚀功能：有。（8）离子束处理过程样品位置固定，保证良好的热传导性。（9）可选配冷冻样品台：液氮制冷，30℃… -150 ℃，25L液氮罐自动加液氮。（10）可选配三样品台：可同时放入三个样品。（11）可选配旋转样品台：样品最大直径38mm，可加工区域最大25mm。（12）观察系统：自主品牌体视镜，LED 4分割照明；观察视窗带有挡板保护（13）操作控制：一体化触摸屏控制，软件可升级（14）真空系统：分子泵×1，二级隔膜泵×1。真空泵解耦合设计，机身无震动传导。配置：（1）主机 1台（2）体视显微镜 1台（3）离子束切割样品台 1套（4）离子束抛光样品台 1套（5）离子束清洁/科室样本底座 1套（6）SEM样品台 1个数量：1台

李老师-13893622587